[发明专利]导线架条的封胶方法与封胶结构有效
申请号: | 201010522150.0 | 申请日: | 2010-10-26 |
公开(公告)号: | CN102054716A | 公开(公告)日: | 2011-05-11 |
发明(设计)人: | 周素芬 | 申请(专利权)人: | 日月光封装测试(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L23/495;H01L23/31 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
地址: | 200137 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开一种导线架条的封胶方法与封胶结构,其主要提供一导线架条,其设置数个导线架单元,且通过弧形的连接浇口来连接在各二相邻导线架单元的二角隅之间,所述弧形的连接浇口不会占用导线架条设置导线架单元的空间,故使得导线架条整体可省略设置现有流道支架,也就是各二相邻导线架单元的外引脚也能交错排列在同一交错排列区。因此,有利于提升导线架条的空间利用率、增加导线架单元的布局数量、增加封胶程序的单位时间产出量,并相对降低半导体封装构造的平均封胶成本。 | ||
搜索关键词: | 导线 方法 胶结 | ||
【主权项】:
一种导线架条的封胶方法,其特征在于:所述封胶方法包含:提供一导线架条,其包含数个导线架单元,所述数个导线架单元在所述导线架条上排成数行及数列;提供一热熔的封装胶材,并使所述封装胶材沿一胶流道流动,所述胶流道延伸至所述导线架条;使所述封装胶材沿所述胶流道由第一个所述导线架单元的一角隅流入第一个所述导线架单元内;以及使所述封装胶材通过一连接浇口由第一个所述导线架单元的另一角隅流到位于同行或列的第二个所述导线架单元的一相邻角隅,并流入第二个所述导线架单元内,因而所述封装胶材在各个所述导线架单元内分别形成一封装胶体。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造