[发明专利]交流电阻焊机可控硅导通角和触发角的测量电路

摘要

交流电阻焊机可控硅导通角和触发角的测量电路，涉及一种可控硅导通角和触发角的测量电路。它解决了现有的交流焊机的导通角和触发角的检测困难的问题。本发明先将电流和电压信号送入比较器，比较得到各自的二分频波形，由此得出电流信号高电平的时间值，将该时间值进行处理就可以得出导通角。将得到的二分频波形进行各自的展宽，然后将展宽后的信号分别通过触发器，通过输出的波形测出电压和电流零点之间的时间间隔，将该时间进行处理获得触发角。本发明适用于交流电阻焊机可控硅导通角和触发角的测量。

主权项

1.交流电阻焊机可控硅导通角和触发角的测量电路，其特征是：它包括一号电阻(R1)、二号电阻(R2)、三号电阻(R3)、四号电阻(R4)、五号电阻(R5)、六号电阻(R6)、七号电阻(R7)、八号电阻(R8)、九号电阻(R9)、十号电阻(R10)、十一号电阻(R11)、十二号电阻(R12)、一号电容(C1)、二号电容(C2)、三号电容(C3)、四号电容(C4)、五号电容(C5)、六号电容(C6)、七号电容(C7)、八号电容(C8)、一号二极管(D1)、二号二极管(D2)、三号二极管(D3)、四号二极管(D4)、一号比较器(A1)、二号比较器(A2)、一号芯片(U1)、二号芯片(U2)、三号芯片(U3)和四号芯片(U4)；一号电阻(R1)的一端与交流电阻焊机的原边电压信号端连接，所述一号电阻(R1)的另一端同时与一号电容(C1)的一端、一号二极管(D1)的阴极、二号二极管(D2)的阳极和一号比较器(A1)的反向输入端连接；一号电容(C1)的另一端同时与电源地和二号电阻(R2)的一端连接；二号电阻(R2)的另一端同时与二号二极管(D2)的阴极和一号比较器(A1)的正向输入端连接；一号二极管(D1)的阳极与三号电阻(R3)的一端连接；三号电阻(R3)的另一端接电源正极；一号比较器(A1)的正向电源端同时与电源正极和三号电容(C3)的一端连接，所述三号电容(C3)的另一端与电源地连接；一号比较器(A1)的负向电源端同时与电源负极和二号电容(C2)的一端连接，所述二号电容(C2)的另一端与电源地连接；一号比较器(A1)的电源地端与电源地连接；一号比较器(A1)的输出端同时与四号电阻(R4)的一端、四号电容(C4)的一端和一号芯片(U1)的管脚(A)连接，所述一号芯片(U1)的管脚(RC)同时与五号电阻(R5)的一端和五号电容(C5)的一端连接；所述五号电阻(R5)的另一端同时与+5V电源和四号电阻(R4)的另一端连接，所述四号电容(C4)的另一端与电源地连接；五号电容(C5)的另一端与一号芯片(U1)的管脚C连接；所述一号芯片(U1)的管脚B与一号芯片的管脚连接；所述一号芯片(U1)的管脚CLR与六号电阻(R6)的一端连接，所述六号电阻(R6)的另一端与+5V电源连接；一号芯片(U1)的管脚Q与四号芯片(U4)的管脚R连接；四号芯片(U4)的CLK同时与电源地和四号芯片(U4)的管脚D连接；四号芯片(U4)的管脚Q是触发角信号输出端；七号电阻(R7)的一端与交流电阻焊机的原边电流信号端连接，所述七号电阻(R7)的另一端同时与六号电容(C6)的一端、三号二极管(D3)的阴极、四号二极管(D4)的阳极和二号比较器(A2)的正向输入端连接；六号电容(C6)的另一端同时与电源地和电阻(R8)的一端连接；电阻(R8)的另一端同时与三号二极管(D3)的阳极和二号比较器(A2)的反向输入端连接；四号二极管(D4)的阴极与九号电阻(R9)的一端连接，所述九号电阻(R9)的另一端与电源负极连接；二号比较器(A2)的输出端同时与十号电阻(R10)的一端、七号电容(C7)的一端和二号芯片(U2)的管脚A连接；所述十号电阻(R10)的一端另一端与+5V电源连接，七号电容(C7)的另一端与电源地连接；二号比较器(A2)的电源地端与电源地连接；二号芯片(U2)的管脚RC同时与十一号电阻(R11)的一端和八号电容(C8)的一端连接；所述八号电容(C8)的另一端与二号芯片(U2)的管脚C连接；十一号电阻(R11)的另一端与+5V电源连接；二号芯片(U2)的管脚B与二号芯片(U2)的管脚连接；二号芯片(U2)的管脚CLR与十二号电阻(R12)的一端连接，所述十二号电阻(R12)的另一端与+5V电源连接；二号芯片(U2)的管脚Q同时与三号芯片(U3)的管脚CLK和四号芯片(U4)的管脚S连接；三号芯片(U3)的管脚与三号芯片(U3)的管脚D连接；三号芯片(U3)的管脚S和管脚R均与电源地连接；二号比较器(A2)的输出端是导通角信号输出端。