[发明专利]一种适用于低孔低渗储层的气、水层识别方法有效
申请号: | 201010522927.3 | 申请日: | 2010-10-28 |
公开(公告)号: | CN102454398A | 公开(公告)日: | 2012-05-16 |
发明(设计)人: | 李浩;魏修平 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
主分类号: | E21B47/00 | 分类号: | E21B47/00;E21B49/00 |
代理公司: | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人: | 刘明华 |
地址: | 100728 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种适用于低孔低渗储层的气、水层识别方法,属于石油勘探、开发领域领域。本发明依据孔隙度测井测量原理,通过分析影响测井孔隙度曲线值大小的因素,给出了在高矿化度泥浆滤液、低孔低渗气藏中识别气层、水层的方法。本发明提供的基于低孔低渗储层的气、水层识别方法易于实施,可操作性强,识别直观、清晰;利用本发明可以在节约成本的同时大大提高气层流体识别的准确度;在现场实际中应用范围很广,不论是低孔低渗的火山岩还是碳酸盐和砂泥岩,本发明均具有很强的可操作性。 | ||
搜索关键词: | 一种 适用于 低孔低渗储层 水层 识别 方法 | ||
【主权项】:
一种适用于低孔低渗储层的气、水层识别方法,其特征在于:所述方法基于孔隙度测井的测量原理,分析影响测井孔隙度曲线值大小的因素,然后对于低孔低渗储层中的气层,重构含气识别组合曲线,在气层实现孔隙度的重新有序排列;对于低孔低渗储层中的水层,考虑泥浆滤液矿化度对中子孔隙度的影响;最终获得所研究地区的储层分类识别依据。
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