[发明专利]一种高抗干扰能力的PFC电路输入电压检测方法

摘要

一种高抗干扰能力的PFC电路输入电压检测方法，包括低通滤波滞后环节Kac1(s)和数字化超前环节Kac2(s)，传递函数为：Kac(s)＝Kac1(s)×Kac2(s)，低通滤波器环节负责滤除各次电压谐波，但造成信号Vin相位明显滞后于Vs；数字化超前环节Kac2(s)由DSP、MCU或者CPLD、FPGA等可编程逻辑器件实现，负责相位调整，将低通滤波环节尤其的引入的相位滞后时间τ补偿掉。本发明技术方案带来的有益效果是：(1)可靠滤除交流输入电压中的谐波电压信号，增强电路的电网适应性和运行可靠性；(2)交流输入电压检测信号Vac相对于交流电网电压无明显相位滞后，减少输入电流失真度增加；提高电路输入PF值，功率因数改善校正效果。(3)两级环节独立调节，匹配容易。

主权项

一种高抗干扰能力的PFC电路输入电压检测方法，包括低通滤波滞后环节Kac1(s)和数字化超前环节Kac2(s)，低通滤波滞后环节Kac1(s)和数字化超前环节Kac2(s)串联，传递函数为：Kac(s)＝Kac1(s)×Kac2(s)，低通滤波器环节造成信号Vin相位明显滞后于Vs，定义该环节造成相位滞后时间为τ；数字化超前环节，定义功率因数校正所控制的指标为PF，具体补偿算法包括：(1)、选择数字化超前环节的采样周期Ts；(2)、每隔Ts时间执行一次步骤(3)至(9)的算法；(3)、根据相邻两次采样值Vin和VinBak来判断信号过零点；(4)、如果信号过零，则记录信号Vin一个周期总的采样次数Num，并清零当前采样序号Cnt；(5)、保存当前采样值Vin到上次采样值VinBak中，同时保存到缓冲区队列Vbuff的第Cnt个单元中，Cnt增加1；(6)、计算信号Vin超前τ时需要的采样次数T，T＝τ/Ts；(7)、计算信号Vin超前τ时对应的序号Tmp，Tmp＝Cnt+τ/Ts；(8)、如果序号Tmp大于一个周期总的采样次数Num，则序号Tmp回绕到缓冲区的前部，Tnp＝Tmp‑Num；(9)、信号超前τ时的采样值Vac＝Vbuff[Tmp]。