[发明专利]黑电平校准方法与系统有效

专利信息
申请号: 201010528206.3 申请日: 2010-10-21
公开(公告)号: CN102457684A 公开(公告)日: 2012-05-16
发明(设计)人: N·董;米塔艾民;林積劭 申请(专利权)人: 英属开曼群岛商恒景科技股份有限公司
主分类号: H04N5/361 分类号: H04N5/361;H04N5/372;H03M1/10
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 陈松涛;韩宏
地址: 开曼群*** 国省代码: 开曼群岛;KY
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摘要: 发明公开了一种黑电平校准方法与系统。根据本发明具体实施例,一种校准像框中黑电平信号的方法包括执行平均化对应于有关该像框的第一组黑色像素的第一组调整的黑电平信号的第一组数字值的迭代,基于该第一组数字值判定平均值是否已经达到目标黑电平,基于该平均值与该目标黑电平及累加器间距之间的差异判定校准偏移,转换该校准偏移到模拟信号,基于该模拟信号产生该像框的第二组黑色像素的校准信号,且重复该像框的迭代,直到判定已经达到预定条件为止。
搜索关键词: 电平 校准 方法 系统
【主权项】:
一种用于校准像框中的黑电平信号的方法,所述方法包括:执行以下迭代平均化对应于有关所述像框的第一组黑色像素的第一组调整过的黑电平信号的第一组数字值;基于所述第一组数字值,判定平均值是否已经达到目标黑电平;基于所述平均值与所述目标黑电平的差距,及累加器间距,判定校准偏移;转换所述校准偏移成模拟信号;及基于所述模拟信号,产生所述像框的第二组黑色像素的校准信号;及重复所述像框的迭代,直到被判定已经达到预定条件。
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