[发明专利]一种基于框架的实时嵌入式软件可测试性测量方法无效
申请号: | 201010530514.X | 申请日: | 2010-11-03 |
公开(公告)号: | CN101976222A | 公开(公告)日: | 2011-02-16 |
发明(设计)人: | 付剑平;刘斌;陆民燕 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京永创新实专利事务所 11121 | 代理人: | 官汉增 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于框架的实时嵌入式软件可测试性测量方法,属于实时嵌入式软件测试技术领域,所述的方法包括实时嵌入式软件可测试性度量框架构建和实时嵌入式软件可测试性测量,具体为首先确定实时嵌入式软件的测试性因素度量、易测试特性度量,构造度量框架;然后确定实时嵌入式软件的测试情况;进行测试性因素度量选择;最后度量计算完成。与现有技术相比,本发明提供的可测试性测量方法基于框架进行,针对实时嵌入式软件不同的测试情况进行,能够得到实时嵌入式软件在不同测试情况下的可测试性;采用模糊综合评价的方式进行计算,不但将原本模糊的易测试特性和可测试性定量化,使之能够进行准确的比较,评价的结果更为全面和准确。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 框架 实时 嵌入式 软件 测试 测量方法 | ||
【主权项】:
一种基于框架的实时嵌入式软件可测试性测量方法,其特征在于包括实时嵌入式软件可测试性度量框架构建和实时嵌入式软件可测试性测量两个步骤,具体地,所述的实时嵌入式软件可测试性度量框架构建通过如下步骤实现:(1)确定实时嵌入式软件的测试性因素度量;(2)确定易测试特性度量;(3)度量框架构造;所述的度量框架结构分为三层:底层,测试性因素度量集合;中间层,易测试特性度量集合;顶层,可测试性度量;各层之间用连线表示元素之间的关系;所述的实时嵌入式软件可测试性测量通过如下步骤实现:(a)确定实时嵌入式软件的测试情况;所述的测试情况包括待测量软件的测试层次、测试类型和测试方法,所述的测试层次、测试类型和测试方法是每一个实时嵌入式软件在开发之前就设定的已知量;(b)测试性因素度量选择;(c)度量计算。
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