[发明专利]用于光子相关纳米粒度仪的数字相关器有效
| 申请号： | 201010533183.5 | 申请日： | 2010-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN102033032A | 公开（公告）日： | 2011-04-27 |
| 发明（设计）人： | 任中京;陈栋章 | 申请（专利权）人： | 济南微纳颗粒仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 250100 山东省济*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于光子相关纳米粒度仪的数字相关器，是一种基于动态光散射原理测试纳米及亚微米颗粒粒度测试技术中用于获取散射光信号自相关函数和互相关函数的数字相关器，其结构包括固化在FPGA中的采样时间设置模块、光子计数模块、相关运算模块、USB通讯模块和同步复位模块，上述光子计数模块均与采样时间设置模块相连接，光子计数模块又与相关运算模块的信号输入端相连接，相关运算模块的信号输出端与USB通讯模块相连接，同步复位模块与光子计数模块、相关运算模块和USB通讯模块相连接。本发明实现了光子脉冲计数、自相关运算、互相关运算以及与计算机通讯的功能，具有采样速度快、延迟时间范围广、相关通道多的特点，完全满足纳米颗粒粒度测试中获取高速变化的动态散射光信号的自相关函数和互相关函数的高难度需求。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光子 相关 纳米 粒度 数字 相关器 | ||
【主权项】：
用于光子相关纳米粒度仪的数字相关器，其特征在于，包括：一个固化在FPGA芯片内的采样时间设置模块；至少两个固化在FPGA芯片内的光子计数模块；一个固化在FPGA芯片内的相关运算模块；一个固化在FPGA芯片内的USB通讯模块；上述光子计数模块均与采样时间设置模块相连接，光子计数模块又与相关运算模块的信号输入端相连接，相关运算模块的信号输出端与USB通讯模块相连接。
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