[发明专利]非圆齿轮齿廓总偏差测量方法及实施装置有效
申请号: | 201010536328.7 | 申请日: | 2010-11-10 |
公开(公告)号: | CN102003934A | 公开(公告)日: | 2011-04-06 |
发明(设计)人: | 郭敬滨;张继承;刘海军 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01B7/28 | 分类号: | G01B7/28;G01B7/293;G01B11/26 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 刘国威 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: |
本发明属于仪器仪表及自动化检测领域。一种非圆齿轮齿廓总偏差测量方法及实施装置,本发明采取的技术方案是,采用极坐标测量方法测量非圆齿轮齿廓总偏差,包括以下步骤:测量前,先根据非圆齿轮的齿廓曲线特征及采样方式按极坐标测量法计算出各个采样点的极角 |
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搜索关键词: | 齿轮 齿廓总 偏差 测量方法 实施 装置 | ||
【主权项】:
1.一种非圆齿轮齿廓总偏差测量方法,其特征是,包括以下步骤:测量前,先根据非圆齿轮的齿廓曲线特征及采样方式按极坐标测量法计算出各个采样点的极角
和极径ρi值;然后将被测非圆齿轮安装在带有圆光栅的精密转台上,该转台由交流伺服电机通过传动机构带动旋转,通过对圆光栅计数来确定非圆齿轮实际旋转的角度量,球形测头及测微装置安装在直线电机的移动座上由直线电机控制测球运动到起始测量点的位置,测量过程中,转台连续转动,控制安装在直线电机移动座上的球形测头向采样点运动;为实现跟踪测量,将根据采样点的极角
和极径ρi值调整控制参数,使精密转台的旋转与直线电机的移动速度匹配,当被测齿轮旋转到采样角
发出采样信号时,测球已移动到ρ1点,由于存在控制系统误差和齿形误差,球形测头移动后的实际位置偏离ρ1点,球形测头上电感信号经电感测微仪读数包括控制系统误差和齿形误差,分离控制系统误差即可得到齿形误差;同理,当被测齿轮旋转到第二个采样极角
时,测球到达ρ2点,测量出第二个采样点的ρ′2值,以此类推,即可测量整个齿廓上各离散点对应的转角值
和偏离值Δρi=ρ′i-ρi,根据补偿控制系统误差得到的实际转角值
偏离值Δρi及电感测微仪示值计算出齿廓总偏差值。
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