[发明专利]检波电路及高频电路有效
| 申请号： | 201010537683.6 | 申请日： | 2010-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN102055420A | 公开（公告）日： | 2011-05-11 |
| 发明（设计）人： | 大石慎吾;塚尾俊哉 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社 |
| 主分类号： | H03F3/24 | 分类号： | H03F3/24 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 张鑫 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 根据本发明可抑制检波电路的检波特性的温度依赖性。由温度系数大的电阻体构成偏压电阻及/或负载电阻，由此利用伴随偏压电阻的温度变化的检波输出的偏移及/或伴随负载电阻的温度变化的检波输出的偏移，来消除伴随二极管检波电路中所包含的检波二极管的温度变化的检波输出的偏移。 | ||
| 搜索关键词： | 检波 电路 高频 | ||
【主权项】：
一种检波电路(10)，包括：二极管检波电路(3)，其包含通过偏压电阻(5、18)连接于电源的二极管(16)，且使用所述二极管(16)生成与交流信号的强度相对应的直流电压；以及晶体管放大电路(4)，其包含通过负载电阻(6)连接于电源的晶体管(26)，且使用所述晶体管(26)将由所述二极管检波电路(3)所生成的直流电压放大；所述检波电路(10)的特征在于：具有如下的温度范围，即伴随所述偏压电阻(5、18)的温度变化的所述晶体管放大电路(4)的输出电压的变化量，与伴随所述负载电阻(6)的温度变化的所述晶体管放大电路(4)的输出电压的变化量之和，达到伴随所述二极管(16)的温度变化的所述晶体管放大电路(4)的输出电压的变化量以上。
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