[发明专利]磁光隔离器旋光角度测量方法及光学参数测量装置无效
| 申请号： | 201010539809.3 | 申请日： | 2010-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN102466558A | 公开（公告）日： | 2012-05-23 |
| 发明（设计）人： | 樊仲维;王家赞 | 申请（专利权）人： | 北京国科世纪激光技术有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01B11/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区西*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种磁光隔离器旋光角度的测量方法及光学参数测量装置。该磁光隔离器旋光角度测量方法包括步骤：a.提供沿光路设置的一个激光器、一个扩束镜、一个缩束镜、一个检偏器和一个光电传感器件；b.旋转检偏器到一个基准角度示值θ1，此时光电传感器件读数为P1；c.在激光器和扩束镜之间放入一个起偏器，旋转起偏器，使光电传感器件读数为第一最小值P2；d.在扩束镜和缩束镜之间放入待测磁光隔离器，调整磁光隔离器使得光电传感器件读数最大，旋转检偏器，使光电传感器件读数为第二最小值Pmin，此时检偏器的旋转角度记为θ2；e.磁光隔离器的旋光角度为θ＝|θ1-θ2|。本发明磁光隔离器旋光角度测量方法测量精度较高。 | ||
| 搜索关键词： | 隔离器 角度 测量方法 光学 参数 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种磁光隔离器旋光角度的测量方法，其特征在于，该方法包括下列步骤：a.提供沿光路依次设置的一个激光器、一个扩束镜、一个缩束镜、一个检偏器和一个光电传感器件；b.旋转检偏器到一个基准角度示值θ1，此时所述光电传感器件读数为P1；c.在所述激光器和所述扩束镜之间放入一个起偏器，旋转所述起偏器，使所述光电传感器件读数为第一最小值P2；d.在所述扩束镜和所述缩束镜之间放入待测磁光隔离器，调整所述磁光隔离器使得所述光电传感器件读数最大，旋转所述检偏器，使所述光电传感器件读数为第二最小值Pmin，此时检偏器的旋转角度记为θ2；e.所述磁光隔离器的旋光角度为θ＝|θ1‑θ2|。
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