[发明专利]一种电子产品测试性分析与诊断决策系统的实现方法有效
申请号: | 201010545014.3 | 申请日: | 2010-11-16 |
公开(公告)号: | CN101980225A | 公开(公告)日: | 2011-02-23 |
发明(设计)人: | 连光耀;黄鑫;黄考利;孙江生;吕晓明;刘晓芹;魏忠林 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军63908部队 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人: | 米文智 |
地址: | 050003 *** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明涉及一种电子产品测试性分析与诊断决策系统的实现方法,适用于电子产品设计领域。其方法步骤如下:(1)测试性设计建模模块:包括装备图形化的测试性模型、测试性设计信息集成与描述、测试性信息获取和测试性信息存储;(2)固有测试性分析模块:包括故障覆盖情况分析、故障模糊组判别和冗余测试分析;(3)实际测试性分析模块:包括诊断策略生成和测试性设计结果分析。本发明的有益效果如下:(1)改变了我国缺乏测试性辅助软件设计的局面,用于对复杂电子产品进行测试性验证分析;(2)本系统各功能单元可以独立使用,具备良好的可扩展性;(3)能够对电子产品提供固有测试性分析功能和实际测试性分析功能。 | ||
搜索关键词: | 一种 电子产品 测试 分析 诊断 决策 系统 实现 方法 | ||
【主权项】:
1.一种电子产品测试性分析与诊断决策系统的实现方法,其特征在于所述系统包括测试性设计建模模块、固有测试性分析模块、实际测试性分析模块和输入输出模块,具体步骤如下:(1)测试性设计建模模块:通过改进的多信号流图模型建立装备图形化的测试性模型,采用信息模型方法实现测试性设计信息集成,用基于XML方法实现信息描述,运用改进的深度优先搜索遍历图算法从所述装备图形化的测试性模型得到相关性矩阵,实现测试性信息获取,采用改进十字链表法进行测试性信息存储;所述改进的多信号流图模型的实现方法如下:层次化结构:把产品模型分为7层,每一层都采用多信号流图的建模方式,每一层子单元作为一个独立的整体进行细化,得到下一层层次结构,采用多信号流图建模;故障模式:定义一类特殊模块实现故障模式建模;在所述特殊模块中,每个故障模式只允许针对一项功能故障进行建模,当所述故障模式针对一个部组件进行了故障模式建模时,故障模式名称自动出现在所述部组件的功能属性内,所述部组件的功能故障率由所述部组件的故障模式的故障率累积得到;单输入、单输出部组件结构:把多信号流图的系统部组件模块结构定义为单输入、单输出形式,所述系统部组件模块中定义的信号通过接口在有向线上传输;(2)固有测试性分析模块:根据所述测试性设计建模模块的信息进行故障覆盖情况分析、故障模糊组判别和冗余测试分析;所述故障覆盖情况分析利用测试可达性分析得到“不能被检测的故障”信息,所述故障模糊组判别是找到相关性矩阵中多个完全一样的行向量构成的故障模糊组的数量和大小,所述冗余测试分析是把所述相关性矩阵中完全相同的列向量对应的测试项目只保留一个;(3)实际测试性分析模块:根据所述固有测试性分析模块的测试性设计信息,进行诊断策略生成和测试性设计结果分析;所述诊断策略生成就是生成系统故障诊断树信息,它包含两个过程:测试项目选择:采用一种二进制粒子群优化的分析方法找到系统最小完备测试项目集合;诊断序列优化:调用上一步生成的系统最小完备测试项目集合,采用改进相关性模型方法完成系统故障诊断工作;所述测试性设计结果分析是计算在当前故障诊断策略下装备的测试性设计指标,所述测试性设计指标包括故障检测率、故障隔离率、故障模糊组数量和大小、平均故障检测时间、平均故障隔离时间、故障隔离有效性及系统重测合格率,利用IEEE Std 1522-2004标准的测试性指标定义规范建立所述测试性设计指标的度量规范。
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