[发明专利]用于半导体封装工艺的芯片卸载装置有效

专利信息
申请号: 201010547376.6 申请日: 2010-11-16
公开(公告)号: CN102097349A 公开(公告)日: 2011-06-15
发明(设计)人: 季月香;陈祖伟 申请(专利权)人: 嘉盛半导体(苏州)有限公司
主分类号: H01L21/677 分类号: H01L21/677
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 赵燕力
地址: 215021 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明为一种用于半导体封装工艺的芯片卸载装置,该芯片卸载装置包括一芯片脱落腔体,芯片脱落腔体由放置薄铁环的盒体和纵向贯穿盒体的漏斗构成;盒体的上表面为一倾斜的斜面,斜面的中心部设有一开口,漏斗的上口与开口的形状相同并紧密固定在开口上,漏斗的下口穿过盒体的底板并延伸设有一出料口;在漏斗上口与斜面开口的连接部位且位于漏斗的后部侧壁的上端设有通气孔;在漏斗外侧与盒体内侧的容置空间内设有离子风扇,离子风扇的出风口由导风管连通于通气孔;在斜面上且围绕开口设有固定薄铁环的卡固构件;在斜面上且围绕开口还设有透孔。本发明可一次将大量封装好的芯片从胶带上取下,并可避免作业中产生的静电对芯片质量造成的损害。
搜索关键词: 用于 半导体 封装 工艺 芯片 卸载 装置
【主权项】:
一种用于半导体封装工艺的芯片卸载装置,其特征在于:该芯片卸载装置至少包括一芯片脱落腔体,该芯片脱落腔体由放置薄铁环的盒体和纵向贯穿该盒体的漏斗构成;盒体的上表面为一倾斜的斜面,该斜面的中心部设有一开口,所述漏斗的上口与该开口的形状相同并紧密固定在该开口上,所述漏斗的下口穿过盒体的底板并延伸设有一出料口;在所述漏斗上口与斜面开口的连接部位且位于所述漏斗的后部侧壁的上端设有通气孔;在所述漏斗外侧与盒体内侧的容置空间内设有离子风扇,离子风扇的出风口由导风管连通于所述通气孔;在所述斜面上且围绕所述开口设有固定薄铁环的卡固构件;在所述斜面上且围绕所述开口还设有透孔。
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