[发明专利]一种存储器测试方法及装置有效
| 申请号： | 201010549541.1 | 申请日： | 2010-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN102467973A | 公开（公告）日： | 2012-05-23 |
| 发明（设计）人： | 李崇仁;刘平;查锦;崔小乐 | 申请（专利权）人： | 北京大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 宋鹰武 |
| 地址： | 518055 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储器的测试方法，包括如下步骤：控制器发出测试命令，使存储器的被测阵列处于测试状态；信号发生器接收到所述测试命令后，产生相应的测试信号；执行器接收到所述测试信号后，将其输入所述被测阵列，所述被测阵列产生功耗以形成所述被测阵列测试所需的测试温度，从而得到测试结果，即通过被测阵列自身的功耗产生的温度进行老化测试，而不需要通过外部对被测阵列进行加温，从而避免了外部温度控制不准、内部温度分布不均、以及只考虑电性能故障而不考虑被测阵列的自身功耗所引起的测试误差等因素产生的测试误差，从而使存储器的可靠性测试结果更准确，工序更简单，成本也更低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种存储器测试装置，用于对存储器的被测阵列进行测试，其特征在于，包括控制器、信号发生器、与所述被测阵列相连的执行器；所述信号发生器在所述控制器控制下，产生测试信号并通过所述执行器输入到所述被测阵列使其产生功耗以形成所述被测阵列测试所需的测试温度。
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