[发明专利]面向复杂可编程逻辑器件的批量测试方法有效

专利信息
申请号: 201010550885.4 申请日: 2010-11-19
公开(公告)号: CN102466776A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 郭士瑞;冯建科;张东;高剑;蒋常斌;李瑞麟;李杰;于明;生晓坤 申请(专利权)人: 北京自动测试技术研究所
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/327;G01R31/3183
代理公司: 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 代理人: 陈曦
地址: 100088 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种面向复杂可编程逻辑器件的批量测试方法。该方法针对CPLD需要先编程开发才能使用的特点,将CPLD的编程与测试统一起来,由ATE实现CPLD的批量测试。用CPLD开发软件得到针对故障模型的JTAG编程文件及仿真文件,把这些编程文件和仿真文件分别转换成ATE能够识别的向量文件。在批量测试前确定并行测试器件数目,并一次性向ATE加载所有向量。批量测试时每个被测试的CPLD仅需与自动测试设备连接一次,多次执行编程向量和测试向量,可以实现多个故障模型的测试。利用本发明,可基于ATE实现CPLD的在线编程和测试,并通过并行测试技术满足CPLD大批量测试的要求,从而降低测试成本,提高测试效率。
搜索关键词: 面向 复杂 可编程 逻辑 器件 批量 测试 方法
【主权项】:
一种面向复杂可编程逻辑器件的批量测试方法,其特征在于包括如下步骤:(1)针对被测试的复杂可编程逻辑器件,根据结构特性和功能特性建立相应的故障模型;(2)使用复杂可编程逻辑器件的开发软件,生成体现所述故障模型的编程文件和测试仿真文件;(3)从所述编程文件的内容中提取编程信息并转化为自动测试设备可识别的编程向量;(4)将所述测试仿真文件转换成所述自动测试设备可识别的测试向量;(5)重复上述步骤(1)~(4),得到n个故障模型对应的编程向量和测试向量,其中n为自然数;(6)根据所述自动测试设备的测试资源和被测试的复杂可编程逻辑器件的管脚数,确定最大的并行测试器件数量p,将步骤(5)得到的n对编程向量和测试向量按顺序加载到所述自动测试设备的向量存储区,所述p为自然数;(7)将t个被测试的复杂可编程逻辑器件连接到所述自动测试设备,对连接性进行测试,其中t为小于或等于p的自然数;(8)通过所述自动测试设备向t个被测试的复杂可编程逻辑器件提供电源电压,依次执行n次如下过程,完成所述n个故障模型的测试:a.通过所述自动测试设备将所述编程向量施加到被测试的复杂可编程逻辑器件的编程管脚,实现在线编程;b.将所述测试向量通过所述自动测试设备施加到被测试的复杂可编程逻辑器件,进行功能测试和参数测试;(9)通过所述自动测试设备关断被测试的复杂可编程逻辑器件的电源,处理测试结果,一次测试结束;(10)重复上述步骤(7)~(9),直至所有被测试的复杂可编程逻辑器件完成测试。
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