[发明专利]提高数控机床闭环控制系统精度的新方法无效
| 申请号： | 201010553345.1 | 申请日： | 2010-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN102478816A | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | 孙文秀 | 申请（专利权）人： | 大连创达技术交易市场有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/401 | 分类号： | G05B19/401 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 116011 辽宁省大*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 一种提高数控机床闭环控制系统精度的新方法，由指令给定装置将位置与速度指令输入，由比较器将输入信号与反馈信号进行比较，经调节放大后，驱动伺服驱动装置，在机床的工作位置设有位置检测装置器，检测信号进入比较器，本发明的位置检测装置先将普通检测元件与高精度检测元件的检测数据一一对应输入转换器，再移去高精度检测元件，直接用普通检测元件测量，并将所测各点普通位置数据输入转换器，而转换器将存储在其中的与该点普通位置数据相对应的高精度位置数据输入比较器，从而最终只需使用普通检测元件检测位置数据即可获得高精度位置数据，提高检测精度，并降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 提高 数控机床 闭环 控制系统 精度 新方法 | ||
【主权项】：
一种提高数控机床闭环控制系统精度的新方法，由指令给定装置将位置与速度指令输入，由比较器将输入信号与反馈信号进行比较，经调节放大后，驱动伺服驱动装置，在机床的工作位置设有位置检测装置，检测信号进入比较器。
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