[发明专利]一种检测零件尺寸的方法及装置无效
| 申请号： | 201010555030.0 | 申请日： | 2010-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN102072701A | 公开（公告）日： | 2011-05-25 |
| 发明（设计）人： | 沈平 | 申请（专利权）人： | 苏州江城数控精密机械有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/02 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 孙仿卫 |
| 地址： | 215200 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种检测零件尺寸的方法，包括如下步骤：将零件放置在检测平台上，使得零件的长平行于X轴，零件的宽平行于Y轴，零件的高平行于Z轴，如检测形状及位置公差，则需要通过夹具夹紧零件；将沿Z轴方向排列的上下两个探测头同步行进，在探测头沿X轴运动的过程中通过探测头检测到的光线反射量的变化确定零件的长度起点及终点位置，在探测头沿Y轴运动的过程中通过探测头检测到的光线反射量的变化确定零件的宽度起点及终点位置，通过上下两个探测头光线反射量两个探测头分别测得的与零件上的对应点之间的Z轴方向的距离计算零件的高度。本发明的采用，能够有效的减小检测零件尺寸过程中的容易产生的系统误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 零件 尺寸 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种检测零件尺寸的方法，其特征在于包括如下步骤：（a）将零件放置在检测平台（1）上，使得零件的长平行于X轴，零件的宽平行于Y轴，零件的高平行于Z轴，通过夹具夹紧零件；（b）将沿Z轴方向排列的上下两个探测头同步行进，在探测头沿X轴运动的过程中通过探测头检测到的光线反射量的变化确定零件的长度，在探测头沿Y轴运动的过程中通过探测头检测到的光线反射量的变化确定零件的宽度，通过两个探测头分别测得的与零件上的对应点之间的Z轴方向的距离计算零件的高度。
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