[发明专利]一种基于扫描链的存储器测试方法有效
| 申请号： | 201010555391.5 | 申请日： | 2010-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN102034556A | 公开（公告）日： | 2011-04-27 |
| 发明（设计）人： | 杨伟建 | 申请（专利权）人： | 福州瑞芯微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 | 代理人： | 翁素华 |
| 地址： | 350000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 一种基于扫描链的存储器测试方法，首先，Tetramax的第一个测试向量通常都是只带串行移位，如果通过了这个测试向量，则测试将转向带并行捕获模式的向量；而如果扫描链的端口有错误，则需要鉴别错误发生的端口或类型；利用并行捕获模式，采用二分法植入调试向量；观察移位向量的调试输出，不断用二分法细化，直到准确定位到失效的寄存器。本发明通过并行捕获的功能，可以在扫描链中根据需要安插测试向量，从而能够快速有效地定位串行移位出错的位置，从而大大提高了测试的覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 扫描 存储器 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种基于扫描链的存储器测试方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤100：Tetramax生成扫描链测试向量；步骤200：开始第一个测试向量；步骤300：串行移位输入；步骤400：串行移位输出；步骤500：判断是否正确 是，转入步骤600；否，转入步骤700；步骤600：测试其他的带并行捕获的向量；步骤700：鉴别错误发生的端口或类型；步骤800：利用并行捕获模式，采用二分法植入调试向量；步骤900：观察移位向量的调试输出，不断用二分法细化，直到准确定位到失效的寄存器。
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