[发明专利]一种通用接口测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 201010558877.4 | 申请日： | 2010-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN102479134A | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | 丁颖 | 申请（专利权）人： | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/267 | 分类号： | G06F11/267 |
| 代理公司： | 上海东创专利代理事务所(普通合伙) 31245 | 代理人： | 曹立维 |
| 地址： | 201203 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种通用接口测试系统及测试方法。通用测试系统由PC端测试脚本、通讯接口母板、通讯接口子板和测试平台构成。测试平台为FPGA或ASIC平台。PC端通过USB接口与通讯接口母板连接，通讯接口母板通过硬线与通讯接口子板连接，通讯接口子板与测试平台连接进行测试通讯。通讯子接口可根据测试需求独立制板。同时本发明还提供一种通用接口测试系统的实现方法。采用本发明所述的测试系统及方法，能够实现多接口测试应用同时测试的需求，采用USB接口满足了吞吐大数据量的需求，自动化的测试方式能有效降低测试人工成本，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通用 接口 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种通用接口测试系统，其特征在于包含PC端测试脚本、通讯接口母板、通讯接口子板和测试平台。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹集成电路有限责任公司，未经上海华虹集成电路有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010558877.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：物料清单的展示方法及系统
- 下一篇：用于籽晶轴传动装置的辅助驱动机构
