[发明专利]一种多次同步模拟内插的时间间隔测量方法和装置有效
| 申请号： | 201010562836.2 | 申请日： | 2010-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN101976037A | 公开（公告）日： | 2011-02-16 |
| 发明（设计）人： | 张军;徐勇;陈明 | 申请（专利权）人： | 北京一朴科技有限公司 |
| 主分类号： | G04F10/00 | 分类号： | G04F10/00;G04F10/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100086 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明了提供一种多次同步模拟内插的时间间隔测量方法和装置，该方法包括如下步骤：使用32位的循环计数器测量时标时刻，形成本地时标，该循环计数器的计时分辨率为10ns；输入被测信号，使用所述循环计数器对所述被测信号进行计数；使用时间展宽器对所述被测信号未被所述循环计数器计数的残余时间间隔进行n次同步的时间展宽，然后采用闸门计数器测量经时间展宽后的所述残余时间间隔；计算所述循环计数器的计数结果和所述闸门计数器的测量结果并输出所述被测信号的测量数据。通过本发明的方法和装置可以达到100ps内测量精度和1M/s的采样率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多次 同步 模拟 内插 时间 间隔 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
一种多次同步模拟内插的时间间隔测量方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：使用32位的循环计数器测量时标时刻，形成本地时标，该循环计数器的计时分辨率为10ns；输入被测信号，使用所述循环计数器对所述被测信号进行计数；使用时间展宽器对所述被测信号未被所述循环计数器计数的残余时间间隔进行n次同步的时间展宽，然后采用闸门计数器测量经时间展宽后的所述残余时间间隔，其中n为大于等于3的正整数；计算所述循环计数器的计数结果和所述闸门计数器的测量结果并输出所述被测信号的测量数据。
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