[发明专利]计数X射线量子的电路装置以及特定用途集成电路和系统有效
申请号: | 201010566390.0 | 申请日: | 2010-11-26 |
公开(公告)号: | CN102135626A | 公开(公告)日: | 2011-07-27 |
发明(设计)人: | 斯蒂芬·卡普勒;卡尔·斯蒂尔斯托弗 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | G01T1/17 | 分类号: | G01T1/17;A61B6/00;A61B6/03 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 谢强 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及一种带有多个检测器元件的电路装置,其中每个检测器元件(d(m,n))采集的X射线量子生成信号历程(16),并且每个检测器元件(d(m,n))具有如下电路装置:检测器元件(d(m,n))与至少一个带有在测量的X射线量子的能量范围内的第一能量阈值(E1、E2)的第一比较器(K1、K2)以及带有在测量的X射线量子的能量范围以上的第二能量阈值(E3、E4)的第二比较器(K3、K4)连接,至少两个比较器(K1、K2;K3、K4)相互逻辑联系,其中至少一个第一比较器(K1、K2)和第二比较器(K3、K4)与XOR电路的输入连接,并且每个与第一比较器(K1、K2)连接的XOR电路与严格地一个边沿敏感的计数器(Z1、Z2)连接。 | ||
搜索关键词: | 计数 射线 量子 电路 装置 以及 特定 用途 集成电路 系统 | ||
【主权项】:
一种用于计数X射线CT系统(C1)的辐射器‑检测器系统中的检测器(C3、C5、D)的检测器元件(d(m,n))内的X射线辐射的X射线量子的电路装置,其中:1.1X射线辐射包括多个X射线量子,所述X射线量子能够具有最大能量(Emax),和1.2每个检测器元件(d(m,n))采集的X射线量子生成带有与X射线量子能量相关的不同高度(h)的电压脉冲(1,EPx)的信号历程(16),所述信号历程(16)可能重叠,其特征在于,每个检测器元件(d(m,n))具有如下电路装置:1.3所述检测器元件(d(m,n))与至少一个带有小于等于X射线量子的最大能量(Emax)的第一能量阈值(E1,E2)的第一比较器(K1,K2)以及与至少一个带有大于X射线量子的最大能量(Emax)的第二能量阈值(E3,E4)的第二比较器(K3,K4)连接,其中,至少两个比较器(K1,K2;K3,K4)在超过其各自的能量阈值(E1,E2;E3,E4)时分别产生比较器输出信号,1.4至少两个比较器(K1,K2;K3,K4)相互逻辑联系,其中,至少一个第一比较器(K1,K2)和第二比较器(K3,K4)与XOR电路(XOR)的输入连接,并且1.5每个与第一比较器(K1,K2)连接的XOR电路(XOR)与严格地一个计数器(Z1,Z2)连接。
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