[发明专利]一种微波射频器件快速仿真与优化方法无效

专利信息
申请号: 201010567987.7 申请日: 2010-12-01
公开(公告)号: CN102156761A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 李秀萍;尚家川;张宁 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100876 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明以一种标签天线快速仿真与优化方法为例,提出了一种微波射频器件快速仿真与优化的方法,通过建立已设计标签天线的非线性模型和数据库,用户可以按照需求从数据库中搜索满足条件的天线,并可根据要求改变天线结构尺寸进行仿真或者根据利用优化算法与非线性模型结合的方式优化天线以获得满足所要求读写距离的关键尺寸参数,最后显示仿真与优化结果。上述方法加快了对标签天线的仿真和优化,可用于标签生产厂商的天线设计以及当芯片阻抗在大范围变化的情况下标签天线的快速选型,大大缩短了天线的设计周期。
搜索关键词: 一种 微波 射频 器件 快速 仿真 优化 方法
【主权项】:
一种微波射频器件快速仿真与优化方法,其特征在于,包括:预设计RFID标签天线数据库;训练数据后,结合神经网络等方法建立已设计标签天线的非线性模型;组建数据库;数据库由标签天线的信息数据包括天线结构图、固定尺寸值、关键尺寸范围、天线增益及天线介质参数,标签芯片的信息数据包括芯片阻抗及芯片的开启电压,读写器的信息数据包括不同国家和地区的射频识别系统标准规定的读写器的最大发射功率、RFID应用频率范围组成;用户搜索满足基本要求的天线、芯片和读写器;以天线的实际尺寸、天线增益等为搜索条件,从数据库中提取满足条件的天线,并选择要仿真与优化的天线;分别以标签芯片的型号和国家名称为索引,从数据库中提取芯片和读写器相关数据将所选天线的尺寸参数、芯片参数和读写器参数作为天线非线性模型的输入进行仿真得出天线的回波损耗(S11)性能和所选射频识别系统的读写距离;将芯片参数、读写器参数和射频识别系统所要求的读写距离为输入,利用优化算法与非线性模型结合的方式优化天线以获得满座所要求读写距离的关键尺寸参数;显示仿真与优化结果。
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