[发明专利]一种电子护照PKI功能测试系统及方法无效
| 申请号： | 201010572278.8 | 申请日： | 2010-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN102486744A | 公开（公告）日： | 2012-06-06 |
| 发明（设计）人： | 刘玉军 | 申请（专利权）人： | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 上海东创专利代理事务所(普通合伙) 31245 | 代理人： | 曹立维 |
| 地址： | 201203 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电子护照PKI功能测试系统及方法。该系统包含电子护照PKI功能测试套件模块、算法支撑模块、PKI基础设施仿真模块、测试管理模块、设备控制模块以及读写机具。设备控制模块连接外部读卡机具，测试管理模块单步或全速运行电子护照PKI功能测试套件中的测试脚本，在执行中调用算法支撑模块进行密钥运算，调用PKI基础设施仿真模块来仿真和外部PKI的功能交互完成测试，并自动生成测试日志和测试报告。本发明还涉及一种电子护照PKI功能测试方法。通过本发明内容能够达到对PKI系统测试的优化，提高测试覆盖率，满足高端智能卡产品在PKI测试中的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子 护照 pki 功能 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种电子护照PKI功能测试系统，其特征在于该系统包含电子护照PKI功能测试套件模块、算法支撑模块、PKI基础设施仿真模块、测试管理模块、设备控制模块以及读写机具。
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