[发明专利]一种改进扫描链单元及基于该单元的非并发测试方法有效

专利信息
申请号: 201010572388.4 申请日: 2011-01-17
公开(公告)号: CN102043122A 公开(公告)日: 2011-05-04
发明(设计)人: 俞洋;杨智明;付宁;王帅;乔立岩;彭喜元 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01R31/317 分类号: G01R31/317;G01R31/3181
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 张果瑞
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种改进扫描链单元及基于该单元的非并发测试方法,属于片上系统测试领域,本发明为解决现有基于扫描链的非并发方式的在线测试方法存在对时序的要求比较严格、控制难度大、且无法一次移入多组测试向量的问题。本发明所述改进扫描链单元用于代替片上系统中的D触发器,该单元中有两个触发器和两个选择器,第一触发器是构成原电路扫描链的基本单元,实现与原D触发器相同功能,第二触发器是为进行测试时保存数据而引入的。两个数据选择器通过使能端来控制数据的流向,第一选择器控制第二触发器中的数据是否可以送到第一触发器,第二选择器控制第一触发器的工作状态或扫描状态。此单元可输入多组测试向量连续测试。测试前后不改变电路的运行状态。
搜索关键词: 一种 改进 扫描 单元 基于 并发 测试 方法
【主权项】:
一种改进扫描链单元,其特征在于,所述改进扫描链单元(1)包括第一选择器(1‑1)、第二选择器(1‑2)、第一触发器(1‑3)和第二触发器(1‑4),第一选择器(1‑1)的0输入端作为所述改进扫描链单元(1)的功能数据输入端,第一选择器(1‑1)的1输入端与第二触发器(1‑4)的输出端相连,第一选择器(1‑1)的输出端与第二选择器(1‑2)的1输入端相连,第二选择器(1‑2)的0输入端作为所述改进扫描链单元(1)的测试单元扫描数据输入端,第二选择器(1‑2)的输出端与第一触发器(1‑3)的D信号输入端相连,第一触发器(1‑3)的输出端与第二触发器(1‑4)的D信号输入端相连,第一触发器(1‑3)的输出端同时作为所述改进扫描链单元(1)的功能输出端和所述改进扫描链单元(1)的扫描数据输出端,第一选择器(1‑1)的使能端输入信号为back,第二选择器(1‑2)的使能端输入信号为selectin,第二触发器(1‑4)的使能端输入信号keep,并与其内部CLK端连接,第一触发器(1‑3)的时钟信号输入端输入改进扫描链单元(1)的时钟信号CLK;当信号back=0、selectin=1、keep=0时,扫描链单元处于正常工作状态,当输入数据为功能数据时,第一触发器(1‑3)的输出端为功能输出端,输出功能数据funout;当输入数据为测试向量时,第一触发器(1‑3)的输出端为扫描数据输出端,输出扫描数据scanout;当信号back=0、selectin=0、keep=1时,扫描链单元处于保护现场状态,第一触发器(1‑3)的输出端为扫描数据输出端,第二触发器(1‑4)保持上一时钟周期的输出扫描数据scanout;当信号back=0、selectin=0、keep=0时,扫描链单元处于移入或移出测试数据状态,第一触发器(1‑3)的输出端为扫描数据输出端,第二触发器(1‑4)保持保护现场状态时所存储的状态数据;当信号back=1、selectin=1、keep=0时,扫描链单元处于恢复现场状态,第一触发器(1‑3)的输出端输出第二触发器(1‑4)返回的存储数据。
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