[发明专利]绝对式光栅尺有效
| 申请号： | 201010575398.3 | 申请日： | 2010-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN102095379A | 公开（公告）日： | 2011-06-15 |
| 发明（设计）人： | 曾琪峰;乔栋;孙强 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01D5/347 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 张伟 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种绝对式光栅尺，其包括一标准光栅、一光电探测器、及一光源，其中，该绝对式光栅尺进一步包括一扫描掩膜，该光源发出光线，经由该扫描掩膜射入该标准光栅，该光电探测器接收到绝对位置信号、参考位置信号及细分信号。该参考位置信号包括两路，其中一路为二半透光信号的组合，另一路为一完全不透光信号和一完全透光信号的组合。该绝对式光栅尺具有读数电路简单的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 绝对 光栅尺 | ||
【主权项】：
一种绝对式光栅尺，其包括一标准光栅、一光电探测器、及一光源，其特征在于：该绝对式光栅尺进一步包括一扫描掩膜，该光源发出光线，经由该扫描掩膜射入该标准光栅，该光电探测器探测由该标准光栅滤光形成的光信号，分别为绝对位置信号、参考位置信号及细分信号，其中，该参考位置信号包括两路，其中一路为两个半透光信号的组合，另一路为一完全不透光信号和一完全透光信号的组合。
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