[发明专利]一种基于统计特性的合成孔径声纳目标检测方法无效

专利信息
申请号: 201010575736.3 申请日: 2010-11-30
公开(公告)号: CN102034109A 公开(公告)日: 2011-04-27
发明(设计)人: 陈强;李保利;刘维;田杰 申请(专利权)人: 中国科学院声学研究所
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G06T7/00
代理公司: 北京法思腾知识产权代理有限公司 11318 代理人: 杨小蓉;高宇
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种基于统计特性的合成孔径声纳目标检测方法,该方法基于回声统计模型进行检测,使用假定回声有背景噪声包围的大小依赖于像素分辨率和预处理环节设计的确定性成分的模型;所述的合成孔径声纳目标检测方法具体步骤包括:首先,把SAS原始图像映射到均值-标准差平面;其次,对SAS原始图像通过熵准则自动设定标准差门限;然后,通过SAS原始图像的统计分析模型统计得出均值-标准差平面中的均值和标准差之间的比例因子,利用比例因子与标准差门限中得到均值门限;最后,利用标准差门限和均值门限对SAS原始图像进行双阈值图像分割。
搜索关键词: 一种 基于 统计 特性 合成 孔径 声纳 目标 检测 方法
【主权项】:
一种基于统计特性的合成孔径声纳目标检测方法,该方法基于回声统计模型进行检测,使用假定回声有背景噪声包围的大小依赖于像素分辨率和预处理环节设计的确定性成分的模型;所述的合成孔径声纳目标检测方法具体步骤包括:步骤1):把SAS原始图像映射到均值‑标准差平面;步骤2):对SAS原始图像通过熵准则设定标准差门限;步骤3):通过SAS原始图像的统计分析模型统计得出均值‑标准差平面中的均值和标准差之间的比例因子,利用比例因子与步骤2)得到的标准差门限得到均值门限;步骤4):利用步骤2)得出的标准差门限和步骤3)得出的均值门限对SAS原始图像进行双阈值图像分割;像素值同时大于标准差门限和均值门限,则像素赋值为“1”;否则,像素赋值为“0”。
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