[发明专利]超声波测距方法、测距系统及具有其的摄像组件无效

专利信息
申请号: 201010576180.X 申请日: 2010-11-23
公开(公告)号: CN102478655A 公开(公告)日: 2012-05-30
发明(设计)人: 陈明 申请(专利权)人: 比亚迪股份有限公司
主分类号: G01S15/08 分类号: G01S15/08;G01S5/30;H04N5/225
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 宋合成
地址: 518118 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种超声波测距方法,包括以下步骤:将至少两个超声波传感器倾斜地设置在第一平面上、法线可相交,并设置参考原点;由超声波传感器中其中一个向被测目标发射超声波且同时采集超声波回波;其中被测目标位于超声波传感器的测量范围的交集内且在超声波传感器的法线所确定的第二平面上;计算出每个超声波传感器与被测目标之间的矢量距离;以及计算出被测目标的具体方位。根据本发明实施例的超声波测距方法,通过超声波传感器倾斜地设置组成传感器阵列,提高了测量精度和测量范围,减少了传感器的使用数量,降低成本且减少干扰。本发明还提供一种采用上述测距方法进行测距的测距系统和具有其的摄像组件。
搜索关键词: 超声波 测距 方法 系统 具有 摄像 组件
【主权项】:
一种超声波测距方法,包括以下步骤:(1)将至少两个超声波传感器倾斜地设置在第一平面上,所述超声波传感器的法线可相交,并设置参考原点;(2)由所述至少两个超声波传感器中的其中一个向被测目标发射超声波,并且所述至少两个超声波传感器同时采集超声波回波;其中所述被测目标位于所述至少两个超声波传感器的测量范围的交集内且所述被测目标在所述至少两个超声波传感器的法线所确定的第二平面上;(3)根据所述超声波回波计算出每个超声波传感器与被测目标之间的矢量距离;以及(4)计算出被测目标与所述第一平面之间的垂直距离,以及被测目标在所述第一平面上的投影相对于参考原点的距离。
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