[发明专利]一种硬件板卡周期运行时间的测试方法有效
| 申请号： | 201010576423.X | 申请日： | 2010-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN102486629A | 公开（公告）日： | 2012-06-06 |
| 发明（设计）人： | 黄太新;钱升华 | 申请（专利权）人： | 北京广利核系统工程有限公司;中国广东核电集团有限公司 |
| 主分类号： | G04F10/00 | 分类号： | G04F10/00 |
| 代理公司： | 北京元中知识产权代理有限责任公司 11223 | 代理人： | 王明霞 |
| 地址： | 100084 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种硬件板卡周期运行时间的测试方法，涉及光学领域，包括如下步骤：步骤1、将经过时间检验的高精度示波器的信号线连接在测试板卡的TP点上；步骤2、在测试板卡的周期运行程序中插入测试代码；步骤3、根据测试代码在高精度示波器上显示的波形，确定周期运行程序的周期运行时间；步骤4、将高精度示波器得出的周期运行时间与设计的周期运行时间比较，即得到被测试板卡周期运行程序真实的周期运行时间与设计的周期运行时间时间的误差值。本方案采用高精度示波器来测试板卡的周期运行时间，使测试使用的时钟源与板卡自身的时钟源独立开来，避免了由于系统时钟不准确导致的测试周期时间不准确的问题，保证了整个设备的时间统一性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 硬件 板卡 周期 运行 时间 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种硬件板卡周期运行时间的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、将经过时间检验的高精度示波器的信号线连接在测试板卡的TP点上；步骤2、在测试板卡的周期运行程序中插入测试代码；步骤3、根据测试代码在高精度示波器上显示的波形，确定周期运行程序的周期运行时间；步骤4、将高精度示波器得出的周期运行时间与设计的周期运行时间比较，即得到被测试板卡周期运行程序真实的周期运行时间与设计的周期运行时间时间的误差值。
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