[发明专利]一种电连接器镀金层孔隙率测试方法有效
| 申请号： | 201010580698.0 | 申请日： | 2010-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN102116730A | 公开（公告）日： | 2011-07-06 |
| 发明（设计）人： | 刘忠祥;宋好强 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 李健;龙洪 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种电连接器镀金层孔隙率测试方法，包括以下步骤：(1)清理样品表面；(2)将样品挂装在密闭容器中；(3)配制次氯酸钠溶液及酸液，并混合倒入密闭容器中与样品共同封闭静置30-50分钟，混合溶液液面低于样品，密闭容器内温度为21-25摄氏度；(4)样品烘干；(5)观察样品表面，根据观察到的每个腐蚀物尺寸换算成腐蚀点个数，然后累计测试区域所有腐蚀点个数，并根据总腐蚀点个数及样品测试面积计算孔隙率。本发明采用在密闭容器中混合次氯酸钠溶液及酸液，挥发气体与样品进行化学反应，并合理控制时间、空间，从而简单、便捷且准确地获得孔隙率，本发明测试过程在密闭容器中完成，且测试介质无毒害，非常环保安全。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 连接器 镀金 孔隙率 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种电连接器镀金层孔隙率测试方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)清理样品表面；(2)将所述步骤(1)中样品挂装在密闭容器中；(3)配制2‑8wt％的次氯酸钠溶液及1‑5wt％的酸液，并将该两种溶液混合倒入所述密闭容器中与样品共同封闭静置30‑50分钟，混合溶液液面低于样品，密闭容器内温度为21摄氏度‑25摄氏度；(4)从所述密闭容器中取出样品进行烘干；(5)观察烘干后的样品表面，根据观察到的每个腐蚀物尺寸换算成腐蚀点个数，然后累计测试区域所有腐蚀点个数，并根据总腐蚀点个数及样品测试面积计算孔隙率：孔隙率＝总腐蚀点个数/样品测试面积；其中，所述孔隙率的单位是个/平方厘米。
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