[发明专利]一种大功率晶体管芯片硼铝扩散工艺有效
申请号: | 201010580992.1 | 申请日: | 2010-12-09 |
公开(公告)号: | CN102074464A | 公开(公告)日: | 2011-05-25 |
发明(设计)人: | 高勇 | 申请(专利权)人: | 西安卫光科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/228 | 分类号: | H01L21/228 |
代理公司: | 西安西交通盛知识产权代理有限责任公司 61217 | 代理人: | 黄瑞华 |
地址: | 710065 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明涉及一种大功率晶体管芯片硼铝扩散工艺,包括以下步骤:1)源溶液配制:将纯硝酸铝a克、三氧化二硼b克溶于cml乙醇;2)硅片清洗;3)硅片烘干;4)将步骤3)烘干后的硅片表面均匀涂覆步骤1)配好的源溶液,放入扩散炉中,升温至1260±1℃恒温8-10小时;其中a∶b∶c=40∶(1.5-2.5)∶500。本发明一种大功率晶体管芯片硼铝扩散工艺,采用了硼铝同时扩散的工艺方法,利用高温下铝有较快的扩散速率,硼有较高的表面浓度,可使硼的扩散深度达到100um~110um,使产品的抗烧能力大大的提高,放大倍数更稳定,该产品用于工作环境恶劣,可靠性要求高的特殊领域。 | ||
搜索关键词: | 一种 大功率 晶体管 芯片 扩散 工艺 | ||
【主权项】:
一种大功率晶体管芯片硼铝扩散工艺,其特征在于,包括以下步骤:1)、源溶液配制:将纯硝酸铝a克、三氧化二硼b克溶于cml乙醇;2)、硅片清洗:将硅片放入去离子水中超声去砂,然后将去砂的硅片放入石英烧杯中,加入1号标准清洗液,加热至沸腾,保持5‑10分钟,然后取出用去离子水洗干净;3)、硅片烘干:将步骤2)清洗干净的硅片用无水乙醇脱水,然后放入120±3℃烘箱中烘干;4)、将步骤3)烘干后的硅片表面均匀涂覆步骤1)配好的源溶液,然后放入石英舟中,将载有硅片的石英舟放入扩散炉中,升温至1260±1℃恒温8‑10小时;其中a∶b∶c=40∶(1.5‑2.5)∶500。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造