[发明专利]一种快恢复二极管FRD芯片及其生产工艺有效
申请号: | 201010581246.4 | 申请日: | 2010-12-10 |
公开(公告)号: | CN102087976A | 公开(公告)日: | 2011-06-08 |
发明(设计)人: | 初亚东;刘长蔚;王军明;梁效峰;牛宝钢;薄勇;崔俊发;邵枫 | 申请(专利权)人: | 天津中环半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L21/306;H01L21/22;H01L29/861 |
代理公司: | 天津中环专利商标代理有限公司 12105 | 代理人: | 莫琪 |
地址: | 300384 天津市南开区*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明涉及一种快恢复二极管(FRD)芯片及其生产工艺,采用扩散前处理、液态源两次扩散、背面减薄、氧化、铂扩散、光刻、台面腐蚀、电泳、烧结、划片等工艺步骤生产结构为P+NN+的二极管,芯片生产工艺采用携带液态磷源深结扩散的方法,提高了扩散结的平坦度,加强了击穿电压的均一性、稳定性;采用降低硼扩散源浓度、提高硼扩散源纯度的方法,提高了快恢复二极管的抗浪涌能力;采用电泳的玻璃钝化工艺,提高了双向稳压二极管的耐压稳定性,可靠性;减小了反向恢复时间,提高了开关速度,减小了压降,降低了功耗,提高了耐压的稳定性,增加了二极管的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 一种 恢复 二极管 frd 芯片 及其 生产工艺 | ||
【主权项】:
一种快恢复二极管芯片生产工艺,其特征在于包括如下次序的步骤:1)扩散前处理:通过酸、碱、去离子水超声清洗等工序,对硅片表面进行化学处理;2)磷源预沉积:对处理干净的硅片在1100~1200℃的扩散炉中气体携带通入液态磷源进行预沉积;3)磷源主扩散:对预沉积后的硅片在1200~1250℃扩散炉进行扩散推进;4)扩散后处理:用酸浸泡、去离子水超声清洗,使硅片分离,并去除表面氧化层;5)背面减薄:用金刚砂把一面的扩散结N+ 磨掉,最终片厚保留在240~260μm;6)硼扩散:把背磨后的硅片清洗干净,采用液态硼源放入1200~1250℃的扩散炉中进行扩散形成P+;7)喷砂:用金刚砂对硅片表面进行均匀的粗面化;8)氧化:把喷砂后经过超砂、电子清洗剂处理的硅片在1100~1200℃的氧化炉中长一层氧化层;9)铂扩散:把清洗后的硅片放入温度为900~910℃的铂扩散炉中进行金属铂的注入;10)光刻:把铂扩散后的硅片进行涂胶、曝光、显影、去氧化层等工序,刻出台面图形;11)台面腐蚀:用混酸刻蚀台面沟槽,混酸温度控制在8~12℃,并用去离子水冲净;12)电泳:把硅片放在配置好的电泳液中,根据台面沟槽需沉积的玻璃重量设置时间,进行电泳;13)烧结:把电泳后的硅片在800~820℃的烧结炉中进行烧结;14)去氧化层:用稀释的氢氟酸浸泡、去离子水超声清洗去除烧结后硅片表面氧化层;15)镀镍、镀金:将去氧化层后的硅片在专用镀槽中进行镀镍、镀金、干燥;16)芯片切割:用划片机把镀金后的硅片从台面沟槽处划成单个芯片。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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