[发明专利]热红外高光谱发射率模拟方法和系统有效

专利信息
申请号: 201010582215.0 申请日: 2010-12-06
公开(公告)号: CN102073039A 公开(公告)日: 2011-05-25
发明(设计)人: 张立福;王晋年;陈小平;杨杭;童庆禧 申请(专利权)人: 中国科学院遥感应用研究所
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497;G01S17/89;G01J5/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹
地址: 100101*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种热红外高光谱发射率模拟方法和系统,利用所述影像地物连续光谱数据在所述TASI多光谱发射率原始影像数据中提取各像元的地物特征参量,再利用所述地物特征参量构建重构变换矩阵,进行光谱重构,模拟获取热红外高光谱信息。本发明可以从热红外TASI多光谱发射率数据及其它热红外多光谱卫星遥感数据中模拟得到连续的具有较高光谱分辨率的热红外高光谱数据,在满足原始多光谱遥感数据具有的高空间分辨率、高信噪比的同时,得到了高光谱分辨率的热红外数据。
搜索关键词: 红外 光谱 发射 模拟 方法 系统
【主权项】:
一种热红外高光谱发射率模拟方法,其特征在于,包括以下过程:S1:利用热红外多光谱传感器获取多光谱发射率原始影像数据,对该数据进行温度与发射率分离,获得低维多光谱发射率影像数据;S2:从影像中选择地物类型,利用热红外多光谱传感器获取所述地物类型所对应的连续光谱数据;S3:利用获取的所述连续光谱数据建立正交变换的高维标准基向量;S4:利用所述高维标准基向量生成分别与所述热红外多光谱传感器的波段对应的低维基向量和高维标准基向量;S5:将所述低维基向量作为特征提取系数矩阵,对所述特征提取系数矩阵与所述低维多光谱发射率影像数据进行模式分解,即矩阵伪逆运算,获得与所述多光谱发射率原始影像各像元对应的地物特征参量矩阵;S6:将地物特征参量矩阵与所述高维标准基向量进行矩阵运算,模拟得到与所述多光谱发射率原始影像各像元对应的各波段的高光谱信息。
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