[发明专利]用于检测分子相互作用的装置和方法有效
| 申请号： | 201010582529.0 | 申请日： | 2005-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN102127595A | 公开（公告）日： | 2011-07-20 |
| 发明（设计）人： | 亚力山大·德沃拉克;托马斯·艾林格尔;尤金·埃曼特劳特;托尔斯泰·舒尔茨;托马斯·乌尔里希;托马斯·凯泽 | 申请（专利权）人： | 科隆迪亚戈芯片技术有限公司 |
| 主分类号： | C12Q1/68 | 分类号： | C12Q1/68;G01N33/53 |
| 代理公司： | 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 | 代理人： | 徐关寿 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明提供一用于定性和/或定量检测探针分子和靶分子之间的相互作用的装置，包含：a)底材上的微阵列，探针分子被固定在微阵列的阵列元件上，该微阵列被放置在装置的第一表面上；以及b)在放置了的微阵列的第一表面与装置的第二表面之间形成的反应室，其中，第一表面至少在该微阵列下方的区域中被构建成可以相对于第二表面指导该微阵列，以便可以改变该微阵列与第二表面之间的距离。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 分子 相互作用 装置 方法 | ||
【主权项】：
用于定性和/或定量检测探针分子和靶分子之间的相互作用的装置，包含：a)底材上的微阵列，探针分子被固定在微阵列的阵列元件上，该微阵列被放置在装置的第一表面上；以及b)在放置了的微阵列的第一表面与装置的第二表面之间形成的反应室，其中，第一表面至少在该微阵列下方的区域中被构建成可以相对于第二表面指导该微阵列，以便可以改变该微阵列与第二表面之间的距离。
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