[发明专利]多芯片测试系统及其测试方法无效
| 申请号： | 201010582585.4 | 申请日： | 2010-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN102479132A | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | 金志仁;陈琏锋 | 申请（专利权）人： | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;张燕华 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种多芯片测试系统及其测试方法，利用可编程控制器串接多个具有联合测试工作组JTAG接口的芯片来进行功能检测的多芯片测试系统及其方法。测试系统包括待测装置及控制装置。待测装置包括多个芯片、可编程控制器、及第二JTAG接口，各该芯片具有第一JTAG接口，可编程控制器通过第一JTAG接口耦接至各个芯片，第二JTAG接口连接至可编程控制器，控制装置连接至第二JTAG接口，用以发送一切换指令至可编程控制器。测试方法先接收一切换指令来选择一待测芯片，再根据待测芯片，发送一测试信号至待测芯片，待测芯片根据测试信号，回传一测试结果至可编程控制器。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种多芯片测试系统，其特征在于，包括：一待测装置，包括：多个芯片，各该芯片具有一第一联合测试工作组接口；一可编程控制器，通过该些第一JTAG接口耦接至该些芯片；以及一第二联合测试工作组接口，连接至该可编程控制器；以及一控制装置，具有一第三联合测试工作组接口，连接至该第二联合测试工作组接口，该控制装置发送一切换指令至该可编程控制器，其中，该切换指令系通过该第二联合测试工作组接口传送至该可编程控制器，该可编程控制器根据该切换指令发送至少一测试信号至相对应的至少一该芯片，对应的该芯片产生一测试结果并回传至该控制装置。
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