[发明专利]一种二维位置跟踪测量装置及其测量方法有效

专利信息
申请号: 201010585777.0 申请日: 2010-12-13
公开(公告)号: CN102538663A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 朱思俊;郭大忠;邹媛媛;柳连柱;赵明扬;许石哲 申请(专利权)人: 中国科学院沈阳自动化研究所
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 白振宇
地址: 110016 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明属于测量领域,具体地说是一种二维位置跟踪测量装置及其测量方法,装置包括干涉仪本体、干涉计镜组、偏差检测系统、随动系统、转向元件及目标反射镜,偏差检测系统包括分光元件及光斑位置传感器;方法为干涉仪本体发射的激光依次通过干涉计镜组、分光元件,经转向元件转向后照射到目标反射镜上,目标反射镜反射的光经转向元件转向后照射到分光元件上、分为两路,一路反射回干涉仪本体,另一路照射在光斑位置传感器上;由光斑位置传感器检测出偏移量,再将检测出的偏移量转换成位移信号后传递给伺服电机,由伺服电机驱动转向元件移动,使转向元件准确跟踪目标反射镜。本发明测量精度高,结构简单,便携性好;测量方法简单,可靠性强。
搜索关键词: 一种 二维 位置 跟踪 测量 装置 及其 测量方法
【主权项】:
一种二维位置跟踪测量装置,其特征在于:包括干涉仪本体(1)、干涉计镜组(2)、偏差检测系统(3)、随动系统(4)、转向元件(5)及目标反射镜(6),其中干涉仪本体(1)、偏差检测系统(3)及随动系统(4)分别安装在支撑件(7)上,目标反射镜(6)安装在被测机器人(8)的末端执行器上,干涉仪本体(1)的激光输出端设有干涉计镜组(2),所述转向元件(5)安装在随动系统(4)上,可平行于激光光路(9)往复移动;所述偏差检测系统(3)包括分光元件(301)及光斑位置传感器(302),干涉仪本体(1)发射的激光光路依次通过干涉计镜组(2)、分光元件(301),经转向元件(5)转向后照射到目标反射镜(6)上,目标反射镜(6)反射的光经转向元件(5)转向后照射到偏差检测系统(3)上,通过分光元件(301)分为两路,一路反射回干涉仪本体(1),另一路照射在光斑位置传感器(302)上。
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