[发明专利]一种在晶圆级封装的塑封工序中避免晶圆破损的方法有效

专利信息
申请号: 201010590130.7 申请日: 2010-12-07
公开(公告)号: CN102543767A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 黄平;吴瑞生;陈益;段磊;陈伟;鲍利华 申请(专利权)人: 万国半导体(开曼)股份有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/56
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 王敏杰
地址: 英属西印度群岛开曼群岛大开曼岛K*** 国省代码: 开曼群岛;KY
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摘要: 发明涉及一种在晶圆级封装体的制备过程中,避免晶圆在其晶圆级封装的塑封工序中破损的方法。由于晶圆正面的划片槽的存在,固化前具有流动性的塑封料易于从划片槽中溢出,产生位于晶圆边缘处的溢胶,如果外溢的塑封料将晶圆和塑封模具的夹具黏接在一起,一旦将夹具与晶圆进行分离就会导致晶圆的破损。本发明先对晶圆的边缘进行研磨,形成环绕在晶圆边缘处的凹陷于晶圆正面的一环形研磨槽,再进行塑封,能有效防止塑封料溢出。
搜索关键词: 一种 晶圆级 封装 塑封 工序 避免 破损 方法
【主权项】:
一种避免晶圆塑封工序中晶圆破损的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:提供一晶圆,晶圆的正面包含有多颗以划片槽相互界定边界的芯片;步骤2:沿划片槽切割晶圆以形成位于划片槽处的切割槽;步骤3:于晶圆的正面绕着晶圆的边缘进行研磨,形成环绕在晶圆边缘处的凹陷于晶圆正面的一环形研磨槽;步骤4:进行塑封工艺,于晶圆的正面塑封晶圆并形成覆盖在晶圆正面的塑封料。
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