[发明专利]一种在晶圆级封装的塑封工序中避免晶圆破损的方法有效
申请号: | 201010590130.7 | 申请日: | 2010-12-07 |
公开(公告)号: | CN102543767A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 黄平;吴瑞生;陈益;段磊;陈伟;鲍利华 | 申请(专利权)人: | 万国半导体(开曼)股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/56 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 王敏杰 |
地址: | 英属西印度群岛开曼群岛大开曼岛K*** | 国省代码: | 开曼群岛;KY |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种在晶圆级封装体的制备过程中,避免晶圆在其晶圆级封装的塑封工序中破损的方法。由于晶圆正面的划片槽的存在,固化前具有流动性的塑封料易于从划片槽中溢出,产生位于晶圆边缘处的溢胶,如果外溢的塑封料将晶圆和塑封模具的夹具黏接在一起,一旦将夹具与晶圆进行分离就会导致晶圆的破损。本发明先对晶圆的边缘进行研磨,形成环绕在晶圆边缘处的凹陷于晶圆正面的一环形研磨槽,再进行塑封,能有效防止塑封料溢出。 | ||
搜索关键词: | 一种 晶圆级 封装 塑封 工序 避免 破损 方法 | ||
【主权项】:
一种避免晶圆塑封工序中晶圆破损的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:提供一晶圆,晶圆的正面包含有多颗以划片槽相互界定边界的芯片;步骤2:沿划片槽切割晶圆以形成位于划片槽处的切割槽;步骤3:于晶圆的正面绕着晶圆的边缘进行研磨,形成环绕在晶圆边缘处的凹陷于晶圆正面的一环形研磨槽;步骤4:进行塑封工艺,于晶圆的正面塑封晶圆并形成覆盖在晶圆正面的塑封料。
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