[发明专利]光盘的记录品质评价方法和光盘存储装置有效
| 申请号： | 201010593273.3 | 申请日： | 2010-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN102201245A | 公开（公告）日： | 2011-09-28 |
| 发明（设计）人： | 榑林正明;藤田真治;川前治 | 申请（专利权）人： | 日立乐金资料储存股份有限公司;日立民用电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/09 | 分类号： | G11B7/09;G11B7/24 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 龙淳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供光盘的记录品质评价方法和光盘存储装置，用短时间对记录在光盘的数据的品质的经时劣化进行推定，并预测已记录的数据的可保存期间。在光盘(101)的数据区域(200)记录用户数据(U)时，在测试区域210记录包含信号电平小于基准值的成分的测试信号T。在规定的时间经过的时间点，再现测试区域的测试信号T，根据其评价结果推定用户数据U的品质劣化。或者每次在数据区域200记录或者再现用户数据U时，在测试区域210反复记录或者再现测试信号T。在规定的时刻，再现测试区域的测试信号T，根据其评价结果推定用户数据U的品质劣化。 | ||
| 搜索关键词： | 光盘 记录 品质 评价 方法 存储 装置 | ||
【主权项】：
一种光盘的记录品质评价方法，用于对记录在光盘中的数据的品质劣化进行评价，其特征在于：在光盘的数据区域记录用户数据时，在该光盘的测试区域记录有包含信号电平小于基准值的成分的测试信号，在经过规定的时间的时间点，对记录在所述测试区域的所述测试信号进行再现，根据该测试信号的品质的评价结果来推定所述用户数据的品质劣化。
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