[发明专利]沟槽MOSFET器件及其制作方法有效
申请号: | 201010593571.2 | 申请日: | 2010-12-17 |
公开(公告)号: | CN102569384A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 王加坤 | 申请(专利权)人: | 无锡华润上华半导体有限公司;无锡华润上华科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L29/10;H01L21/336 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 常亮;李辰 |
地址: | 214028 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种沟槽MOSFET器件及其制作方法。所述沟槽MOSFET器件包括:基底,所述基底包括本体层和所述本体层之上的外延层;位于所述外延层中的第一沟槽和接触孔;其中,所述第一沟槽为梳状沟槽。本发明所提供的沟槽MOSFET器件,由于其外延层中的第一沟槽为梳状沟槽,而梳状沟槽所具有的弯曲结构能明显增加沟道宽度,从而可减小沟道电阻,进一步可减小导通电阻。 | ||
搜索关键词: | 沟槽 mosfet 器件 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种沟槽MOSFET器件,其特征在于,包括:基底,所述基底包括本体层和所述本体层之上的外延层;位于所述外延层中的第一沟槽和接触孔;其中,所述第一沟槽为梳状沟槽。
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