[发明专利]耐高压测试装置及采用该装置的耐高压测试方法有效

专利信息
申请号: 201010596714.5 申请日: 2010-12-20
公开(公告)号: CN102121961A 公开(公告)日: 2011-07-13
发明(设计)人: 徐学军 申请(专利权)人: 梅州市志浩电子科技有限公司;深圳市五株电路板有限公司
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 何青瓦
地址: 514028 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种耐高压测试装置及采用该装置的耐高压测试方法。该耐高压测试装置包括承载基板、基板电极板、电极板、驱动信号源、多个电压触针及平面定位装置,该多个电压触针一端对应电连接该驱动信号源,另一端则贯穿该承载基板并延伸至该承载基板和该电极板之间位置,该基板电极板盖设于该承载基板和该电极板之间,该多个电压触针相对该驱动信号源能够在设定范围内伸缩。本发明还提供一种耐高压测试方法,可同时进行多点对点、多点对面及面对面之间的耐高压测试。本发明的测试装置的触针阵列测试方法具有工作效率高,操作方便,安全可靠等优点。
搜索关键词: 高压 测试 装置 采用 方法
【主权项】:
一种耐高压测试装置,包括一承载基板、一基板电极板、一电极板、一驱动信号源及多个电压触针,其特征在于:该承载基板与该电极板叠合设置,该基板电极板设于该承载基板和该电极板之间,该多个电压触针一端对应电连接于该驱动信号源,另一端则贯穿该承载基板并延伸至该承载基板和该电极板之间位置。
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