[发明专利]一种扣除光谱背景的方法和装置无效
申请号: | 201010597325.4 | 申请日: | 2010-12-10 |
公开(公告)号: | CN102175325A | 公开(公告)日: | 2011-09-07 |
发明(设计)人: | 吕全超;寿淼钧;孙敬文 | 申请(专利权)人: | 聚光科技(杭州)股份有限公司 |
主分类号: | G01J3/443 | 分类号: | G01J3/443;G01J3/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310052 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及一种扣除光谱背景的方法,待测光通过入射狭缝后入射到光栅,被光栅分光后的待测光穿过出射狭缝,最后被探测器接收,从而得到待测光在波长域的强度分布;在上述工作过程中,保持光栅不动,改变待测光在光栅上的入射角α,使得探测器接收到待测波长及其侧部的光强;待测波长处的光强扣除侧部的光强,从而得出待测波长处的实际光强。本发明还提供了一种用于实施上述方法的装置。本发明有效地降低了背景光对测量结果的干扰,提高光谱分析的精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 扣除 光谱 背景 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种扣除光谱背景的方法,待测光通过入射狭缝后入射到光栅,被光栅分光后的待测光穿过出射狭缝,最后被探测器接收,从而得到待测光在波长域的强度分布;其特征在于:在上述工作过程中,保持光栅不动,改变待测光在光栅上的入射角α,使得探测器接收到待测波长及其侧部的光强;待测波长处的光强扣除侧部的光强,从而得出待测波长处的实际光强。
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