[发明专利]一种测定高纯试剂中贵金属离子含量的前处理方法有效
| 申请号： | 201010602512.7 | 申请日： | 2010-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN102175500A | 公开（公告）日： | 2011-09-07 |
| 发明（设计）人： | 宋振;曹旭妮 | 申请（专利权）人： | 上海化学试剂研究所 |
| 主分类号： | G01N1/34 | 分类号： | G01N1/34 |
| 代理公司： | 上海开祺知识产权代理有限公司 31114 | 代理人： | 费开逵 |
| 地址： | 200333 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测定高纯试剂溶液中贵金属离子含量的前处理方法。以高纯试剂溶液为原料，通过固载有聚乙烯双硫腙复膜树脂的前处理柱，用洗脱剂洗脱富集的贵金属离子后定容，得到的高纯试剂前处理液用原子吸收光谱仪测定其中的贵金属离子含量，其测得的结果与用X荧光分析仪测得的结果相符。本发明方法与现有技术相比较，操作简单易行，采用加压超滤对高纯试剂中的贵金属离子进行富集，得到的前处理液无需进行后处理，可直接进样用原子吸收光谱仪测定高纯试剂中贵金属离子的含量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测定 高纯 试剂 贵金属 离子 含量 处理 方法 | ||
【主权项】：
一种测定高纯试剂中贵金属离子含量的前处理方法，其特征在于，包括如下步骤：将高纯试剂溶液在0.01‑0.05MPa条件下通过固载有聚乙烯双硫腙复膜树脂的前处理柱，用洗脱剂洗脱富集的贵金属离子后定容，得到的前处理液直接进样测定贵金属离子的含量。
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