[发明专利]一种晶棒角度测量台无效
申请号: | 201010603274.1 | 申请日: | 2010-12-24 |
公开(公告)号: | CN102109475A | 公开(公告)日: | 2011-06-29 |
发明(设计)人: | 王树林;宋志鹏;张伟展;杨志杰;周波;刘春春 | 申请(专利权)人: | 江苏大学 |
主分类号: | G01N23/207 | 分类号: | G01N23/207 |
代理公司: | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人: | 汪旭东 |
地址: | 212013 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明属于机械加工领域,提供了一种石英晶棒角度的测量装置,用于在晶片加工过程中对利用X射线,确定晶体断面的晶体学取向和参考面取向,具有方便、快速、易操作的特点。本发明包括晶棒挡板(1),晶棒支撑板(3),底部支座(4),晶棒挡板(1)为长度150-155mm、宽度70-75mm、高10-12mm的方板,晶棒挡板(1)在中部开有楔形方空的方板,通过增加了晶棒挡板的长度,从而保证了晶棒在被测量时的稳定性,减小了因晶棒可能产生的摆动而造成的测量误差。 | ||
搜索关键词: | 一种 角度 测量 | ||
【主权项】:
一种晶棒角度测量台, 包括晶棒挡板(1),晶棒支撑板(3),底部支座(4),其特征在于:所述晶棒挡板(1)为长度150‑155mm、宽度70‑75mm、高10‑12mm的方板,晶棒挡板(1)在中部开有楔形方空的方板;楔形方孔下边离晶棒挡板下底边40mm,方孔长为10 mm、宽为10mm,并且在方孔延平板长度方向开有楔形面;晶棒支撑板(3)的上沿与楔形方孔下边在同一高度。
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