[发明专利]信号检测方法、装置和基站有效

专利信息
申请号: 201010612824.6 申请日: 2010-12-29
公开(公告)号: CN102025433A 公开(公告)日: 2011-04-20
发明(设计)人: 曾志雄;孙益军;孙捷 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00;H04W24/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518129 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种信号检测方法、装置和基站。一种信号检测装置,包括第一耦合器、第二耦合器、功率检波单元和信号获得单元,第一耦合器和第二耦合器之间的传输线的长度为四分之一波长的奇数倍,第一耦合器和第二耦合器的方向性相同;功率检波单元,与第一耦合器和第二耦合器相连,用于对第一耦合器和第二耦合器输出的信号进行功率检波,分别获得待测通道上的信号的功率的第一检测结果和第二检测结果;信号获得单元,与功率检波单元相连,用于获得第一检测结果和第二检测结果的均量,作为待测通道上的信号的功率的第三检测结果。采用本发明提供的方法、装置和基站,可以降低耦合器方向性不理想造成的不确定误差。
搜索关键词: 信号 检测 方法 装置 基站
【主权项】:
一种信号检测装置,用于对待测通道进行信号检测,其特征在于,包括第一耦合器、第二耦合器、功率检波单元和信号获得单元,所述第一耦合器和第二耦合器均用于耦合所述待测通道上的信号,第一耦合器和第二耦合器之间的传输线的长度为四分之一波长的奇数倍,所述第一耦合器和第二耦合器的方向性相同;功率检波单元,与第一耦合器和第二耦合器相连,用于对第一耦合器输出的信号进行功率检波,获得待测通道上的信号的功率的第一检测结果,并对第二耦合器输出的信号进行功率检波,获得待测通道上的信号的功率的第二检测结果;信号获得单元,与功率检波单元相连,用于获得待测通道上的信号的功率的第一检测结果和待测通道上的信号的功率的第二检测结果的均量,作为待测通道上的信号的功率的第三检测结果。
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