[发明专利]一种电路测试装置有效

专利信息
申请号: 201010617492.0 申请日: 2010-12-30
公开(公告)号: CN102141598A 公开(公告)日: 2011-08-03
发明(设计)人: 唐先德;李红;李贵栓 申请(专利权)人: 优利德科技(中国)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 逯长明
地址: 523000 *** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种电路测试装置,包括测试装置本体、测试孔连线及与所述测试孔相连的多路电路,还包括刀盘及位于所述刀盘外侧的旋钮,其中:所述刀盘由多段圆弧状导体组成,各段圆弧状导体之间互不相连,各段圆弧状均由一个半径较小的内导体和一个半径较大的外导体组成,所述内导体和外导体圆心相同,互不相连;各路电路的两极分别连接同一个圆弧状导体的内导体和外导体;所述旋钮朝向所述刀盘的一侧设置有接触片,所述接触片随着旋钮同步转动,并同时连接所述接触片所述刀盘上与所述接触片位置对应的圆弧状导体的内导体和外导体。利用实施例,操作者在进行电路测试时无需反复插拔表笔,提高工作效率且降低了出错概率。
搜索关键词: 一种 电路 测试 装置
【主权项】:
一种电路测试装置,包括测试装置本体、设置在所述本体上的测试孔连线及设置在所述本体内部的多路电路,其特征在于,所述测试孔与所述多路电路相连接,所述测试装置还包括设置在所述测试本体内的刀盘及与设置在所述测试本体的壳体上且位于所述刀盘外侧的旋钮,其中:所述刀盘由多段圆弧状导体组成,各段圆弧状导体之间互不相连,各段圆弧状均由一个半径较小的内导体和一个半径较大的外导体组成,所述内导体和外导体圆心相同,互不相连;各路电路的两极分别连接同一个圆弧状导体的内导体和外导体;所述旋钮朝向所述刀盘的一侧设置有接触片,所述接触片随着旋钮同步转动,并同时连接所述接触片所述刀盘上与所述接触片位置对应的圆弧状导体的内导体和外导体。
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