[发明专利]一种海量存储系统的可靠性测试系统及测试方法无效

专利信息
申请号: 201010620500.7 申请日: 2010-12-31
公开(公告)号: CN102097133A 公开(公告)日: 2011-06-15
发明(设计)人: 潘清;张晓清;王霄军;庄泽南 申请(专利权)人: 中国人民解放军装备指挥技术学院
主分类号: G11C29/10 分类号: G11C29/10
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 张杰
地址: 101416 北京市怀柔区3*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种海量存储系统的可靠性测试系统及方法,包括数据采集单元和数据分析单元,数据采集单元包括静态测试模块、72小时可靠性测试模块、恢复时间测试模块、BER测试模块、MTBF参考数据采集模块;所述数据分析模块包括静态测试评估模块、72小时可靠性测试结果分析模块、马尔科夫分析模块、蒙特卡罗分析模块、MTTDL分析模块;通过上述数据采集和数据分析,从静态测试、72小时可靠性测试和基于故障注入的可靠性测试等方面综合测试,采用马尔科夫模型、蒙特卡罗模型、磁盘阵列MTTDL来进行分析,得到反映被测系统的各项性能指标,解决了现有技术中的可靠性评价系统不能综合反映出海量存储系统的可靠性的技术问题。特别适用于海量存储系统的可靠性测试。
搜索关键词: 一种 海量 存储系统 可靠性 测试 系统 方法
【主权项】:
一种海量存储系统的可靠性测试系统,包括数据采集单元和数据分析单元,其特征在于:所述数据采集单元,通过测试采集用于分析的数据,包括:(1)静态测试模块:对影响系统可靠性的属性进行总结,确定检查项,制定检查表,并针对检查项进行测试,将测试结果写入检查表;(2)72小时可靠性测试模块:首先进行出厂测试,然后进行72小时压力测试,得到测试结果;(3)恢复时间测试模块:在被测系统中插入故障,测量被测系统在故障情况下的性能变化,得出恢复时间;(4)BER测试模块:采集磁盘在读数据过程中产生的错误率;(5)MTBF参考数据采集模块:测量单个磁盘运行时的平均无故障时间;所述数据分析单元,对数据采集部分采集到的数据进行处理和分析,包括:(1)静态测试评估模块:根据静态测试中的检查表分析测试结果;(2)72小时可靠性测试结果分析模块:根据所述72小时可靠性测试中的测试结果进行分析;(3)马尔科夫分析模块:根据阵列正常运行状态、阵列故障状态、阵列恢复状态来建立马尔科夫模型,计算出被测系统的可靠性;(4)蒙特卡罗分析模块:通过蒙特卡罗模拟建模,在已知单个磁盘MTBF的情况下,根据各个部件的出错率,模拟两个或两个以上部件在同一时间段的运行状态,得出其出错的概率,最后得到各部件组成的整个系统的MTBF,进而得出系统可用性值;(5)MTTDL分析模块:通过数据丢失的方式,将平均无数据丢失时间分为两部分,一为因磁盘损坏造成的丢失,二为在磁盘良好的状态下,产生的不可恢复的读数据错误,然后将两部分综合得出总体的MTTDL。
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