[发明专利]气体的在位测量方法及装置有效
| 申请号： | 201010622384.2 | 申请日： | 2010-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN102175642A | 公开（公告）日： | 2011-09-07 |
| 发明（设计）人： | 林德宝;陈生龙;战宏亮;俞大海 | 申请（专利权）人： | 聚光科技(杭州)股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/39 | 分类号： | G01N21/39;G01N27/407;G01N24/10;G01N21/25 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310052 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及气体的在位测量方法，特点是：光源发出的测量光在光源和探测器之间形成测量光路，测量光路上具有测量区域和非测量区域；所述非测量区域内通有第一气体，第一气体中含有被测气体；第一气体经过气流延时后进入非测量区域；在气流延时前或延时中，测得第一气体中被测气体的浓度；分析测量光在测量区域和非测量区域的衰减，并利用第一气体中被测气体的浓度，从而获得测量区域内被测气体的浓度。本发明具有测量精度高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 气体 在位 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
气体的在位测量方法，其特征在于：光源发出的测量光在光源和探测器之间形成测量光路，测量光路上具有测量区域和非测量区域；所述非测量区域内通有第一气体，第一气体中含有被测气体；第一气体经过气流延时后进入非测量区域；在气流延时前或延时中，测得第一气体中被测气体的浓度；分析测量光在测量区域和非测量区域的衰减，并利用第一气体中被测气体的浓度，从而获得测量区域内被测气体的浓度。
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