[发明专利]用于探测光伏装置中的缺陷的光子成像系统及其方法有效
| 申请号： | 201010623179.8 | 申请日： | 2010-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN102183523A | 公开（公告）日： | 2011-09-14 |
| 发明（设计）人： | F·R·阿迈德;O·苏利马;K·R·纳加卡;赵日安;J·W·布雷 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 朱海煜;王忠忠 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种方法包括：经由电流源(14)将电流提供给至少一个光伏装置(12)，并且经由辐射探测器(16)来探测来自至少一个光伏装置(12)的发射光子辐射。该方法还包括将对应于所探测的发射光子辐射的信号从辐射探测器(16)输出到处理器装置(18)，以及经由处理器装置(18)来处理与所探测的发射光子辐射对应的信号，以便生成一个或多个二维光子图像。该方法还包括分析一个或多个二维光子图像，以便确定至少一个光伏装置(12)中的至少一个缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 探测 装置 中的 缺陷 光子 成像 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种方法，包括下列步骤：经由电流源(14)将电流提供给至少一个光伏装置(12)；经由辐射探测器(16)探测来自所述至少一个光伏装置(12)的发射光子辐射；将对应于所探测的发射光子辐射的信号从所述辐射探测器(16)输出到处理器装置(18)；经由所述处理器装置(18)来处理与所探测的发射光子辐射对应的信号，以便生成一个或多个二维光子图像；以及分析所述一个或多个二维光子图像，以便确定该至少一个光伏装置(12)中的至少一个缺陷。
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