[发明专利]应用程序切片技术的静态缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201010624200.6 | 申请日： | 2010-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN102110051A | 公开（公告）日： | 2011-06-29 |
| 发明（设计）人： | 宫云战;赵云山;金大海;肖庆;杨朝红;刘莉 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人： | 程殿军 |
| 地址： | 100876 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种应用程序切片技术的静态缺陷检测方法，包括：A、获取待检测缺陷模式的缺陷特征；B、根据所述的缺陷特征，计算所有分支节点的路径条件，并生成切片准则；C、按照所述的切片准则，遍历控制流图进行程序切片，对控制流图进行重构，得到已重构的控制流图；D、利用所述已重构的控制流图，应用缺陷状态迭代算法，进行缺陷模式状态机计算；E、若当前控制流图节点为非汇合节点，则将所有缺陷状态中的状态条件进行汇聚及更新操作；F、如果当前控制流图节点为汇合节点，则按照当前缺陷状态的状态条件进行状态合并。采用该方法能够在一定程度上提高缺陷检测的效率，并减少基于路径合并策略的路径敏感检测方法的误报。 | ||
| 搜索关键词： | 应用程序 切片 技术 静态 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
应用程序切片技术的静态缺陷检测方法，其特征在于，该方法包括：A、获取待检测缺陷模式的缺陷特征；B、根据所述的缺陷特征，计算分支节点处的路径条件，并生成切片准则；C、根据所述的切片准则，遍历控制流图进行程序切片，对控制流图进行重构，得到已重构的控制流图；D、利用所述已重构的控制流图，应用缺陷状态迭代算法，进行缺陷模式状态机计算；E、若当前控制流图节点为非汇合节点，则将所有缺陷状态中的状态条件进行汇聚及更新操作；F、如果当前控制流图节点为汇合节点，则按照当前缺陷状态的状态条件进行状态合并。
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