[实用新型]一种用于内存条测试装置的加热装置无效

专利信息
申请号: 201020122365.9 申请日: 2010-03-02
公开(公告)号: CN201655340U 公开(公告)日: 2010-11-24
发明(设计)人: 郭志刚 申请(专利权)人: 正文电子(苏州)有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 215126 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种用于内存条测试装置的加热装置,所述内存条测试装置包括测试台、放置在所述测试台上的测试主板、插入所述测试主板上的待测内存条,其特征在于:所述加热装置包括支架,设置在所述支架上的加热器,所述加热器下方周围至少三面设置有遮挡帘。由于在加热器下方周围三面设置有遮挡帘,给加热器下方周围围成了一个热量聚集的区域,避免加热器加热所产生的热量散发而造成热量大量浪费,更快更好的模拟出内存条在实际实用中电脑由于散热不良而造成的高温环境,最大效率的利用热能。另一方面,存条测试装置的加热器在支架作用下能绕机台旋转,更方便了内存条的测试过程的插拔,提高了效率。
搜索关键词: 一种 用于 内存条 测试 装置 加热
【主权项】:
一种用于内存条测试装置的加热装置,所述内存条测试装置包括测试台、放置在所述测试台上的测试主板、插入所述测试主板上的待测内存条,其特征在于:所述加热装置包括支架,设置在所述支架上的加热器,所述加热器下方周围至少三面设置有遮挡帘。
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