[实用新型]集成电路自动测试分选机无效
| 申请号： | 201020151722.4 | 申请日： | 2010-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN201676828U | 公开（公告）日： | 2010-12-22 |
| 发明（设计）人： | 王晓军;班华;陈滔;刘义;张华 | 申请（专利权）人： | 王晓军;班华;陈滔;刘义;张华 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 510000 广东省广州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种集成电路自动测试分选机，通过采用伺服电机驱动、气动执行机构、光电检测单元、PLC自动控制来实现SDIP/SSDIP收缩型封装功率半导体器件的自动测试分选。它包括三组绝缘测试单元、功能测试单元、两套分轨梭，功能测试单元位于三组绝缘测试单元之后并与之串行，功能测试单元的一侧设置有并行的绝缘测试不良品缓冲轨道，在三组绝缘测试单元前端及与之串行的一组功能测试单元的前端分别设置有分轨梭。本装置可实现同一机台同时完成绝缘测试和功能测试，并最大限度地避免管脚因单边受力而变形弯曲，保证绝缘测试结果的可靠性，适用于SDIP、SSDIP收缩型封装及DIP封装等集成电路的测试分选。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 自动 测试 分选 | ||
【主权项】：
一种集成电路自动测试分选机，具有三组绝缘测试单元、功能测试单元、两套分轨梭，其特征在于，所述功能测试单元位于三组绝缘测试单元之后并与之串行，功能测试单元的一侧设置有并行的绝缘测试不良品缓冲轨道，在三组绝缘测试单元前端及与之串行的一组功能测试单元的前端分别设置有分轨梭。
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