[实用新型]印刷电路板密度组合式测试治具无效

专利信息
申请号: 201020153535.X 申请日: 2010-04-02
公开(公告)号: CN201681141U 公开(公告)日: 2010-12-22
发明(设计)人: 徐宇震;欧俊岩 申请(专利权)人: 徐宇震;欧俊岩
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 代理人: 孙皓晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型有关于一种印刷电路板密度组合式测试治具,该种密度组合式测试治具,对应至测试机端可为低密度,但对应至印刷电路板测试端可利用转换与组合方式而为高密度,或高、中、低混合密度。其有别于传统测试机采单一密度的设置。本实用新型可在单一台电路板测试机上,达成测试多种不同密度的功能,并解决公知高密度不易布针的限制,能大幅降低购置测试机的成本,提升测试机的通用性,以符合实际需要。
搜索关键词: 印刷 电路板 密度 组合式 测试
【主权项】:
一种印刷电路板密度组合式测试治具,其特征在于,所述测试治具,至少是由两种不同测点密度的测试治具模块所组成。
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