[实用新型]印刷电路板密度组合式测试治具无效
申请号: | 201020153535.X | 申请日: | 2010-04-02 |
公开(公告)号: | CN201681141U | 公开(公告)日: | 2010-12-22 |
发明(设计)人: | 徐宇震;欧俊岩 | 申请(专利权)人: | 徐宇震;欧俊岩 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人: | 孙皓晨 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本实用新型有关于一种印刷电路板密度组合式测试治具,该种密度组合式测试治具,对应至测试机端可为低密度,但对应至印刷电路板测试端可利用转换与组合方式而为高密度,或高、中、低混合密度。其有别于传统测试机采单一密度的设置。本实用新型可在单一台电路板测试机上,达成测试多种不同密度的功能,并解决公知高密度不易布针的限制,能大幅降低购置测试机的成本,提升测试机的通用性,以符合实际需要。 | ||
搜索关键词: | 印刷 电路板 密度 组合式 测试 | ||
【主权项】:
一种印刷电路板密度组合式测试治具,其特征在于,所述测试治具,至少是由两种不同测点密度的测试治具模块所组成。
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